Biasoidun impedanssispektroskopian mittausohjelmisto pietsosähköisille materiaaleille
Kaarteenaho, Armi (2016-05-03)
A. Kaarteenaho
03.05.2016
© 2016 Armi Kaarteenaho. Tämä Kohde on tekijänoikeuden ja/tai lähioikeuksien suojaama. Voit käyttää Kohdetta käyttöösi sovellettavan tekijänoikeutta ja lähioikeuksia koskevan lainsäädännön sallimilla tavoilla. Muunlaista käyttöä varten tarvitset oikeudenhaltijoiden luvan.
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-201605041620
https://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-201605041620
Tiivistelmä
Tässä työssä tutustuttiin pietsosähköisyyteen sekä pietsosähköisiin keraameihin.
Käytännön osuudessa suunniteltiin ja toteutettiin National Instruments:in LabVIEW ympäristöön mittausohjelmisto, jolla pystytään GPIB-väylän kautta ohjaamaan piirianalysaattoria ja jännitevahvistinta sekä laskemaan automaattisesti mitattujen resonanssitaajuuksien perusteella kytkeytymiskertoimet. The purpose of this thesis was to become familiar with piezoelectricity and piezoelectric ceramics.
In the practical part of this work a measuring software, which can be used to control a spectrum analyzer and voltage amplifier through GPIB and automatically calculate coupling factors based on measured resonance frequencies, was designed and implemented in National Instruments LabVIEW environment.
Käytännön osuudessa suunniteltiin ja toteutettiin National Instruments:in LabVIEW ympäristöön mittausohjelmisto, jolla pystytään GPIB-väylän kautta ohjaamaan piirianalysaattoria ja jännitevahvistinta sekä laskemaan automaattisesti mitattujen resonanssitaajuuksien perusteella kytkeytymiskertoimet.
In the practical part of this work a measuring software, which can be used to control a spectrum analyzer and voltage amplifier through GPIB and automatically calculate coupling factors based on measured resonance frequencies, was designed and implemented in National Instruments LabVIEW environment.
Kokoelmat
- Avoin saatavuus [34186]