Hyppää sisältöön
    • FI
    • ENG
  • FI
  • /
  • EN
OuluREPO – Oulun yliopiston julkaisuarkisto / University of Oulu repository
Näytä viite 
  •   OuluREPO etusivu
  • Oulun yliopisto
  • Avoin saatavuus
  • Näytä viite
  •   OuluREPO etusivu
  • Oulun yliopisto
  • Avoin saatavuus
  • Näytä viite
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Dual-Polarized Diffraction Measurements and Modeling at D-Band Frequencies

Fındık, Cihan Barış; Zhang, Peize; Hovinen, Veikko; Leinonen, Marko E.; Pärssinen, Aarno; Kyösti, Pekka (2024-04-26)

 
Avaa tiedosto
nbnfioulu-202408135382.pdf (703.6Kt)
Lataukset: 

URL:
https://doi.org/10.23919/EuCAP60739.2024.10501762

Fındık, Cihan Barış
Zhang, Peize
Hovinen, Veikko
Leinonen, Marko E.
Pärssinen, Aarno
Kyösti, Pekka
IEEE
26.04.2024

C. B. Findik, P. Zhang, V. Hovinen, M. E. Leinonen, A. Pärssinen and P. Kyösti, "Dual-Polarized Diffraction Measurements and Modeling at D-Band Frequencies," 2024 18th European Conference on Antennas and Propagation (EuCAP), Glasgow, United Kingdom, 2024, pp. 1-5, doi: 10.23919/EuCAP60739.2024.10501762

https://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
© 2024 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works.
https://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
doi:https://doi.org/10.23919/EuCAP60739.2024.10501762
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-202408135382
Tiivistelmä
Abstract

This paper investigates the diffraction mechanism at D-band and its polarization dependency in a concise way. The results are compared with the conventional knife edge diffraction (KED) model. A thin metal, laminated board, and a slab of absorber are used as blockage for characterization. Logarithmic fit functions are provided to demonstrate the impact of material properties in diffraction. In most of the cases, KED model provided a good agreement with measurements. The findings also suggest that the XPR is preserved in diffraction for both co-polarized and cross-polarized scenarios.
Kokoelmat
  • Avoin saatavuus [38320]
oulurepo@oulu.fiOulun yliopiston kirjastoOuluCRISLaturiMuuntaja
SaavutettavuusselosteTietosuojailmoitusYlläpidon kirjautuminen
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatAsiasanatUusimmatSivukartta

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
oulurepo@oulu.fiOulun yliopiston kirjastoOuluCRISLaturiMuuntaja
SaavutettavuusselosteTietosuojailmoitusYlläpidon kirjautuminen