Selaus tekijän mukaan kokoelmassa Rajattu saatavuus
-
A new design for the X-ray line-scan detector system software
Zheng, Yi (Y. Zheng, 23.05.2014)Rajoitetun näkyvyyden opinnäytteet ovat luettavissa vain OuluREPO-työasemilla: https://oulurepo.oulu.fi/handle/10024/5