Tilastollinen prosessinohjaus: perusteet ja menetelmät

Abstract

<div lang="fi" class="abs"><p class="abs_header">Tiivistelmä</p><p>Tämä raportti on projektin "SPC:n ja älykkäiden menetelmien soveltaminen elektroniikkateollisuudessa" ensimmäinen osaraportti. Projektin tavoitteena on tutkia älykkäiden tietämysjärjestelmien ja SPC:n hyväksikäyttöä elektroniikan tuotannossa. Hankkeen rahoittaa Tekes ja siihen osallistuu neljä elektroniikkayritystä: Mikrolli Oy, Incap Electronics Oy, Jutron Oy ja Tellabs Oy. Projekti kuuluu ETX-ohjelmaan ja se on käynnistynyt keväällä 1998. </p><p>Tässä raportissa on esitetty tilastollisen prosessinohjauksen perusteita ja menetelmiä lähtien tiedonkeruusta aina analysoitujen tietojen esittämiseen. Menetelminä käsitellään vuokaavioita, syy-seurausdiagrammeja, FMEA-analyysiä, valvontakortteja, histogrammeja, Pareto-menetelmää ja hajontadiagrammeja. Myöhemmissä raporteissa tullaan käsittelemään myös erilaisia ohjelmallisia SPC-työkaluja. </p></div>