Hyppää sisältöön
    • FI
    • ENG
  • FI
  • /
  • EN
OuluREPO – Oulun yliopiston julkaisuarkisto / University of Oulu repository
Näytä viite 
  •   OuluREPO etusivu
  • Oulun yliopisto
  • Avoin saatavuus
  • Näytä viite
  •   OuluREPO etusivu
  • Oulun yliopisto
  • Avoin saatavuus
  • Näytä viite
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Algorithm level error detection in low voltage systolic array

Safarpour, Mehdi; Inanlou, Reza; Silvén, Olli (2021-07-06)

 
Avaa tiedosto
nbnfi-fe2021080341988.pdf (2.818Mt)
nbnfi-fe2021080341988_meta.xml (31.20Kt)
nbnfi-fe2021080341988_solr.xml (30.99Kt)
Lataukset: 

URL:
https://doi.org/10.1109/TCSII.2021.3094923

Safarpour, Mehdi
Inanlou, Reza
Silvén, Olli
Institute of Electrical and Electronics Engineers
06.07.2021

M. Safarpour, R. Inanlou and O. Silvén, "Algorithm Level Error Detection in Low Voltage Systolic Array," in IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, vol. 69, no. 2, pp. 569-573, Feb. 2022, doi: 10.1109/TCSII.2021.3094923

https://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
© 2021 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works.
https://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
doi:https://doi.org/10.1109/TCSII.2021.3094923
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2021080341988
Tiivistelmä

Abstract

In this brief an approach is proposed to achieve energy savings from reduced voltage operation. The solution detects timing-errors by integrating Algorithm Based Fault Tolerance (ABFT) into a digital architecture. The approach has been studied with a systolic array matrix multiplier operating at reduced voltages, detecting errors on-the-fly to avoid energy demanding memory round-trips. The analysis of the solution has been done using analog-digital co-simulation to extract the transient behavior under different voltages and clock frequencies. HSPICE simulations using 90nm CMOS transistor models, and experiments by reducing operation voltage of an FPGA device were carried out. HSPICE simulations, showed possibility of 10x increase in energy-efficiency by approaching near-threshold region.

Kokoelmat
  • Avoin saatavuus [38840]
oulurepo@oulu.fiOulun yliopiston kirjastoOuluCRISLaturiMuuntaja
SaavutettavuusselosteTietosuojailmoitusYlläpidon kirjautuminen
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatAsiasanatUusimmatSivukartta

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
oulurepo@oulu.fiOulun yliopiston kirjastoOuluCRISLaturiMuuntaja
SaavutettavuusselosteTietosuojailmoitusYlläpidon kirjautuminen