Hyppää sisältöön
    • FI
    • ENG
  • FI
  • /
  • EN
OuluREPO – Oulun yliopiston julkaisuarkisto / University of Oulu repository
Näytä viite 
  •   OuluREPO etusivu
  • Oulun yliopisto
  • Avoin saatavuus
  • Näytä viite
  •   OuluREPO etusivu
  • Oulun yliopisto
  • Avoin saatavuus
  • Näytä viite
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

On the microwave photonics based pulsed-time-of-flight techniques in the measurement of the thickness of dielectric sheets

Aikio, Janne P.; Kostamovaara, Juha; Berg, Markus; Salonen, Erkki (2017-07-07)

 
Avaa tiedosto
nbnfi-fe2018062926664.pdf (520.0Kt)
nbnfi-fe2018062926664_meta.xml (33.05Kt)
nbnfi-fe2018062926664_solr.xml (29.26Kt)
Lataukset: 

URL:
https://doi.org/10.1109/I2MTC.2017.7969831

Aikio, Janne P.
Kostamovaara, Juha
Berg, Markus
Salonen, Erkki
Institute of Electrical and Electronics Engineers
07.07.2017

J. P. Aikio, J. Kostamovaara, M. Berg and E. T. Salonen, "On the microwave photonics based pulsed-time-of-flight techniques in the measurement of the thickness of dielectric sheets," 2017 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), Turin, 2017, pp. 1-6. doi: 10.1109/I2MTC.2017.7969831

https://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
© 2017 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works.
https://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
doi:https://doi.org/10.1109/I2MTC.2017.7969831
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2018062926664
Tiivistelmä

Abstract

This paper proposes a time domain measurement technique for characterizing the thickness of dielectric material based on pulse-domain microwave photonics and pulsed time-of-flight configuration. Short laser pulses from a semiconductor laser diode are converted to electrical pulses using a wideband photodetector. These pulses are fed to an antenna, providing a simple and accurate non-destructive measurement technique for material characterization. The thickness of the sample is calculated based on the propagation delay of a radio wave by measuring the transit time of a short electromagnetic pulse. The propagation delay is determined from the front edge of the energy envelope. Results show that the measured propagation delay is linearly dependent on the sample thickness. The technique achieves a measurement precision in the sub-mm range with a measurement time of 40ms.

Kokoelmat
  • Avoin saatavuus [38358]
oulurepo@oulu.fiOulun yliopiston kirjastoOuluCRISLaturiMuuntaja
SaavutettavuusselosteTietosuojailmoitusYlläpidon kirjautuminen
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatAsiasanatUusimmatSivukartta

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
oulurepo@oulu.fiOulun yliopiston kirjastoOuluCRISLaturiMuuntaja
SaavutettavuusselosteTietosuojailmoitusYlläpidon kirjautuminen