Hyppää sisältöön
    • FI
    • ENG
  • FI
  • /
  • EN
OuluREPO – Oulun yliopiston julkaisuarkisto / University of Oulu repository
Näytä viite 
  •   OuluREPO etusivu
  • Oulun yliopisto
  • Avoin saatavuus
  • Näytä viite
  •   OuluREPO etusivu
  • Oulun yliopisto
  • Avoin saatavuus
  • Näytä viite
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Diffraction effects in terahertz band : measurements and analysis

Kokkoniemi, Joonas; Rintanen, Perttu; Lehtomäki, Janne; Juntti, Markku (2017-02-06)

 
Avaa tiedosto
nbnfi-fe2018080133224.pdf (768.1Kt)
nbnfi-fe2018080133224_meta.xml (33.05Kt)
nbnfi-fe2018080133224_solr.xml (30.19Kt)
Lataukset: 

URL:
https://doi.org/10.1109/GLOCOM.2016.7841734

Kokkoniemi, Joonas
Rintanen, Perttu
Lehtomäki, Janne
Juntti, Markku
Institute of Electrical and Electronics Engineers
06.02.2017

J. Kokkoniemi, P. Rintanen, J. Lehtomaki and M. Juntti, "Diffraction Effects in Terahertz Band - Measurements and Analysis," 2016 IEEE Global Communications Conference (GLOBECOM), Washington, DC, 2016, pp. 1-6. doi: 10.1109/GLOCOM.2016.7841734

https://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
© 2016 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works.
https://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
doi:https://doi.org/10.1109/GLOCOM.2016.7841734
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2018080133224
Tiivistelmä

Abstract

Measurement results and related analysis on the diffraction properties in the THz frequency band are reported. The results are given on the bands from approximately 100 GHz to 2 THz. Measurements were made for knife-edge diffraction, and diffraction through single and double slits. The diffraction effects are of interest in modeling the non-line-of-sight (NLOS) paths in the THz band. Therefore, the measurement results have significant practical value for designing the real communication systems. The theoretical models from the literature show a very good match to the measurement results. The key finding is that wireless communication links in the THz band can be established even in the shadows of the objects through diffraction with reasonable path loss. This also indicates another path in the THz multipath environment, as the previous studies have shown the THz radiation is capable on penetration, reflections, and scattering.

Kokoelmat
  • Avoin saatavuus [37777]
oulurepo@oulu.fiOulun yliopiston kirjastoOuluCRISLaturiMuuntaja
SaavutettavuusselosteTietosuojailmoitusYlläpidon kirjautuminen
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatAsiasanatUusimmatSivukartta

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
oulurepo@oulu.fiOulun yliopiston kirjastoOuluCRISLaturiMuuntaja
SaavutettavuusselosteTietosuojailmoitusYlläpidon kirjautuminen