Kemiallisen ympäristön tutkiminen XPS-menetelmällä

Blomberg, Niko (2021-07-31)
 
Avaa tiedosto
Lataukset: 


Blomberg, Niko
N. Blomberg
31.07.2021
© 2021 Niko Blomberg. Tämä Kohde on tekijänoikeuden ja/tai lähioikeuksien suojaama. Voit käyttää Kohdetta käyttöösi sovellettavan tekijänoikeutta ja lähioikeuksia koskevan lainsäädännön sallimilla tavoilla. Muunlaista käyttöä varten tarvitset oikeudenhaltijoiden luvan.
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-202108058844
Tiivistelmä
Fotoelektronispektroskopiassa hyödynnetään Albert Einsteinin selittämää valosähköistä ilmiötä, jolla määritetään liike-energia näytteestä irrotetuille fotoelektroneille. Näillä tiedoilla aseistettuna selvitämme näytemateriaalin elektronivyörakennetta, josta voimme päätellä näytteen koostumuksen. Tässä tutkielmassa käsittelen tarkemmin röntgenfotoelektronispektroskopiaa ja sen soveltamista atomien kemiallisen ympäristön analysoimiseen.

Röntgenfotoelektronispektroskopia, eli XPS ("X-ray photoelectron spectroscopy") on yksi materiaalitutkimuksen menetelmistä. Painottaen menetelmän hyötyä aineanalyysissä, sitä kutsutaan myös elektronispektroskopiaksi kemialliseen analyysiin, mikä lyhennetään ESCA ("Electron spectroscopy for chemical analysis"). Erikoisuutena muihin spektroskooppisiin menetelmiin XPS kertoo, alkuainepitoisuuksien lisäksi, myös näytteen kemiallisista sidoksista.
Kokoelmat