Tunnelointimikroskopia, STM

Asikainen, Kati (2020-04-29)
 
Avaa tiedosto
Lataukset: 


Asikainen, Kati
K. Asikainen
29.04.2020
© 2020 Kati Asikainen. Tämä Kohde on tekijänoikeuden ja/tai lähioikeuksien suojaama. Voit käyttää Kohdetta käyttöösi sovellettavan tekijänoikeutta ja lähioikeuksia koskevan lainsäädännön sallimilla tavoilla. Muunlaista käyttöä varten tarvitset oikeudenhaltijoiden luvan.
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-202004301580
Tiivistelmä
Tunnelointimikroskopia (Scanning Tunneling Microscopy, STM) on kokeellinen pintatutkimusmenetelmä, jonka avulla pystytään kuvantamaan materiaalien pintojen atomitason rakennetta. STM-kuvan muodostamisessa hyödynnetään kärjen ja pinnan välillä havaittavaa kvanttimekaanista tunneloitumista. Kokeellisten kuvien teoreettinen ja laskennallinen mallintaminen on avain niiden ymmärtämiseen ja tulkitsemiseen.

Tässä tutkielmassa tutustutaan tunnelointimikroskopiaan. Tarkoitus on perehtyä tutkimusmenetelmään kokonaisvaltaisesti. Selvitetään mikroskoopin toiminta ja rakenne sekä siihen liittyvä teoreettinen tausta. Ennen syventymistä tunnelointimikroskopian osuuteen käsitellään tunneloitumisilmiöön liittyvä teoria kvanttimekaniikan avulla.
Kokoelmat